#1 Toshiba SL10-105 - zwarcie po podłączeniu zasilacza, grzeje się PQ21
przez xamledyD • 27 lutego 2018, 14:56
Witam.
Na początek obsada laptopa:
Wcześniejsza historia sprzętu jest nieznana. Poniżej opis zastanej usterki:
Laptop po podłączeniu do zasilacza serwisowego pobierał niewiele ponad 10 mA. Nie reagował na przycisk Power. Po demontażu płyty głównej stwierdzono wizualne uszkodzenie tranzystora oznaczonego na laminacie płyty jako PQ21 (AO4418) - był przypalony po stronie źródła i bramy, tam też ukruszył się podczas zdejmowania go z płyty. Leżący naprzeciwko niego (na schemacie) tranzystor PQ30 (AO4411) okazał się sprawny - wymieniłem więc tylko PQ21 na sprawny wylut o identycznych parametrach z płyty dawcy. Podłączyłem następnie zasilacz laboratoryjny do gniazda zasilania płyty, ustawiając napięcie zasilania na 1 V i ograniczenie prądowe na 1 A. Płyta nie pobierała żadnego prądu, podnosiłem więc napięcie o 1 V. Przy napięciu 5 V płyta zaczęła pobierać prąd wynoszący kilkadziesiąt mA. Podnosiłem napięcie dalej monitorując wzrost poboru prądu i badając, co nagrzewa się na płycie. Gdy zadziałało ograniczenie prądowe (przy napięciu niższym niż 12 V), PQ21 był już bardzo gorący. Odłączyłem zasilanie, wylutowałem i sprawdziłem PQ21 - uszkodzony (pełne zwarcie między źródłem a drenem). Ponownie sprawdziłem PQ30 oraz dodatkowo PQ20 (AO4411) - oba elementy okazały się sprawne. Wymieniłem zatem PQ21 na kolejny sprawny "wylut". Zmierzyłem przy okazji rezystancję padów tych tranzystorów (na czas pomiaru wszystkie trzy tranzystory zostały wylutowane z płyty) do masy przy włożonym CPU i wyjętym CPU - wyniki poniżej:
Oczywiście zapoznałem się z tematami szkoleniowymi. Rzeczą podstawową w tym przypadku jest wykonanie próby zwarciowej. Przeprowadzałem ją z powodzeniem kilka razy na innych platformach (np. Quanta PL3), spróbowałem też tutaj. Podłączyłem się do źródła tranzystora PQ21 (tranzystor nie był zdejmowany z płyty na czas próby) i włączyłem zasilanie (1 V, max. 100 mA). Od razu zadziałało ograniczenie prądowe zbijając napięcie do 0.56 V. Zwiększyłem maksymalne natężenie do 500 mA, napięcie zaś podnosiłem o 100 mV. Tym razem ograniczenie zadziałało przy napięciu 1.3 V. Podniosłem ograniczenie do 2 A, podnosząc dalej napięcie i monitorując płytę. Ograniczenie zadziałało przy 2.5 V, przy czym wyczuwalnie ciepły zrobił się... procesor Intel Celeron M 360 (SL86K) - oprócz niego nie stwierdziłem nagrzewania się innych elementów. Próbę przerwałem, sprawdziłem procesor w innym laptopie - uszkodzony. Ponieważ nie wiedziałem, czy procesor był wcześniej sprawny, postanowiłem przetestować płytę na innym sprawnym CPU - Intel Celeron M 390 (SL8MP). Zacząłem ponownie od bezpiecznych 1 V i 100 mA - ponownie jednak zadziałało ograniczenie prądu. Zaniechałem dalszego podnoszenia napięcia - nie chcę uszkodzić sprawnego procesora.
Zmierzyłem rezystancję na cewkach w stosunku do masy, zarówno z włożonym sprawnym CPU jak i bez niego - wyniki poniżej:
Cewki pogrupowałem ze względu na powtarzalność wyników pomiarów.
PL5 i PL10 są nieobsadzone na tej płycie.
Dodatkowe informacje:
- brak śladów zalania/korozji/spalenizny na płycie,
- BIOS nie był przeprogramowywany (mam tylko EZP2010), poza tym nie wygląda on na "winowajcę",
- gniazdo zasilania jest sprawne mechanicznie i elektronicznie,
- wiem, że ten laptop to "zabytek" oparty na przestarzałej architekturze; wiem też ile kosztuje do niego sprawna płyta na popularnym portalu aukcyjnym - chcę jednak spróbować przywrócić go do używalności bez większych inwestycji w niego (ucząc się czegoś przy okazji - zajmuję się nim w tzw. "wolnym czasie").
Na podstawie wyżej opisanych czynności mam kilka pytań:
- czy przeprowadzenie próby zwarciowej na źródle tranzystora PQ21 (połączonym z gałęzią VIN) było dobrym pomysłem?
- gdzie się wpiąć na płycie zasilaczem laboratoryjnym tak, aby przybliżyć się do namierzenia "winowajcy", nie ryzykując jednocześnie uszkodzenia sprawnego CPU?
- czy problem może powodować układ PU5 (SC541)? Jeśli tak, to w jaki sposób mogę to sprawdzić, mając do dyspozycji standardowy multimetr (chodzi mi o pomiar rezystancji wyprowadzeń układu do masy - jakich zakresów wartości spodziewać się w zależności od mierzonych wyprowadzeń)?
- jakie informacje są jeszcze potrzebne do zawężenia kręgu podejrzanych o wywołanie zwarcia?
Z góry dziękuję za każdą wskazówkę mogącą przybliżyć mnie do naprawy sprzętu.
Na początek obsada laptopa:
Płyta główna | DA0EW3MB6D1 REV: D |
Mostek północny | RG82852GM (SL6ZK) |
Mostek południowy | FW82801DBM (SL6DN) |
KBC/EC | PC97551 |
BIOS | 39VF040 |
Procesor | Intel Celeron M 390 (SL8MP) |
Wcześniejsza historia sprzętu jest nieznana. Poniżej opis zastanej usterki:
Laptop po podłączeniu do zasilacza serwisowego pobierał niewiele ponad 10 mA. Nie reagował na przycisk Power. Po demontażu płyty głównej stwierdzono wizualne uszkodzenie tranzystora oznaczonego na laminacie płyty jako PQ21 (AO4418) - był przypalony po stronie źródła i bramy, tam też ukruszył się podczas zdejmowania go z płyty. Leżący naprzeciwko niego (na schemacie) tranzystor PQ30 (AO4411) okazał się sprawny - wymieniłem więc tylko PQ21 na sprawny wylut o identycznych parametrach z płyty dawcy. Podłączyłem następnie zasilacz laboratoryjny do gniazda zasilania płyty, ustawiając napięcie zasilania na 1 V i ograniczenie prądowe na 1 A. Płyta nie pobierała żadnego prądu, podnosiłem więc napięcie o 1 V. Przy napięciu 5 V płyta zaczęła pobierać prąd wynoszący kilkadziesiąt mA. Podnosiłem napięcie dalej monitorując wzrost poboru prądu i badając, co nagrzewa się na płycie. Gdy zadziałało ograniczenie prądowe (przy napięciu niższym niż 12 V), PQ21 był już bardzo gorący. Odłączyłem zasilanie, wylutowałem i sprawdziłem PQ21 - uszkodzony (pełne zwarcie między źródłem a drenem). Ponownie sprawdziłem PQ30 oraz dodatkowo PQ20 (AO4411) - oba elementy okazały się sprawne. Wymieniłem zatem PQ21 na kolejny sprawny "wylut". Zmierzyłem przy okazji rezystancję padów tych tranzystorów (na czas pomiaru wszystkie trzy tranzystory zostały wylutowane z płyty) do masy przy włożonym CPU i wyjętym CPU - wyniki poniżej:
Oznaczenie tranzystora | Dren (z CPU) | Dren (bez CPU) | Źródło (z CPU) | Źródło (bez CPU) | Brama (z CPU) | Brama (bez CPU) |
PQ21 (AO4418) | 2 MΩ (rośnie) | 30 MΩ (maleje) | 9,35 Ω | 2,3 kΩ | 9,6 MΩ (rośnie) | 9,6 MΩ (rośnie) |
PQ20 (AO4411) | 2,32 kΩ | 2,32 kΩ | 2 MΩ (rośnie) | 2 MΩ (rośnie) | 9,6 MΩ (rośnie) | 9,6 MΩ (rośnie) |
PQ30 (AO4411) | 2,32 kΩ | 2,32 kΩ | 9,35 Ω | 2,3 kΩ | 9,6 MΩ (rośnie) | 9,6 MΩ (rośnie) |
Oczywiście zapoznałem się z tematami szkoleniowymi. Rzeczą podstawową w tym przypadku jest wykonanie próby zwarciowej. Przeprowadzałem ją z powodzeniem kilka razy na innych platformach (np. Quanta PL3), spróbowałem też tutaj. Podłączyłem się do źródła tranzystora PQ21 (tranzystor nie był zdejmowany z płyty na czas próby) i włączyłem zasilanie (1 V, max. 100 mA). Od razu zadziałało ograniczenie prądowe zbijając napięcie do 0.56 V. Zwiększyłem maksymalne natężenie do 500 mA, napięcie zaś podnosiłem o 100 mV. Tym razem ograniczenie zadziałało przy napięciu 1.3 V. Podniosłem ograniczenie do 2 A, podnosząc dalej napięcie i monitorując płytę. Ograniczenie zadziałało przy 2.5 V, przy czym wyczuwalnie ciepły zrobił się... procesor Intel Celeron M 360 (SL86K) - oprócz niego nie stwierdziłem nagrzewania się innych elementów. Próbę przerwałem, sprawdziłem procesor w innym laptopie - uszkodzony. Ponieważ nie wiedziałem, czy procesor był wcześniej sprawny, postanowiłem przetestować płytę na innym sprawnym CPU - Intel Celeron M 390 (SL8MP). Zacząłem ponownie od bezpiecznych 1 V i 100 mA - ponownie jednak zadziałało ograniczenie prądu. Zaniechałem dalszego podnoszenia napięcia - nie chcę uszkodzić sprawnego procesora.
Zmierzyłem rezystancję na cewkach w stosunku do masy, zarówno z włożonym sprawnym CPU jak i bez niego - wyniki poniżej:
Oznaczenie cewki | z CPU | bez CPU |
PL1, PL2, PL3 | 4 MΩ (rośnie) | 4 MΩ (rośnie) |
PL4 | 2,34 kΩ | 2,34 kΩ |
PL6, PL11, PL12 | 6,44 Ω | 2,34 kΩ |
PL7, PL15 | 91 Ω | 91 Ω |
PL8, PL9 | 2,34 kΩ | 2,34 kΩ |
PL13 | 5,74 Ω | 2,25 kΩ |
PL14 | niestabilna (rośnie/maleje) | niestabilna (rośnie/maleje) |
PL16 | 7,65 Ω | 2,3 kΩ |
PL17 | 13 kΩ (maleje) | 13 kΩ (maleje) |
Cewki pogrupowałem ze względu na powtarzalność wyników pomiarów.
PL5 i PL10 są nieobsadzone na tej płycie.
Dodatkowe informacje:
- brak śladów zalania/korozji/spalenizny na płycie,
- BIOS nie był przeprogramowywany (mam tylko EZP2010), poza tym nie wygląda on na "winowajcę",
- gniazdo zasilania jest sprawne mechanicznie i elektronicznie,
- wiem, że ten laptop to "zabytek" oparty na przestarzałej architekturze; wiem też ile kosztuje do niego sprawna płyta na popularnym portalu aukcyjnym - chcę jednak spróbować przywrócić go do używalności bez większych inwestycji w niego (ucząc się czegoś przy okazji - zajmuję się nim w tzw. "wolnym czasie").
Na podstawie wyżej opisanych czynności mam kilka pytań:
- czy przeprowadzenie próby zwarciowej na źródle tranzystora PQ21 (połączonym z gałęzią VIN) było dobrym pomysłem?
- gdzie się wpiąć na płycie zasilaczem laboratoryjnym tak, aby przybliżyć się do namierzenia "winowajcy", nie ryzykując jednocześnie uszkodzenia sprawnego CPU?
- czy problem może powodować układ PU5 (SC541)? Jeśli tak, to w jaki sposób mogę to sprawdzić, mając do dyspozycji standardowy multimetr (chodzi mi o pomiar rezystancji wyprowadzeń układu do masy - jakich zakresów wartości spodziewać się w zależności od mierzonych wyprowadzeń)?
- jakie informacje są jeszcze potrzebne do zawężenia kręgu podejrzanych o wywołanie zwarcia?
Z góry dziękuję za każdą wskazówkę mogącą przybliżyć mnie do naprawy sprzętu.